全元素光譜分析儀主要由激光器、光譜儀、探測器和時序控制器等核心單元組成，典型的LIBS檢測系統。其中，激光器為等離子體的激發源，在樣品表面激發產生等離子體后，其發射光被光收集器采集，并通過光纖傳輸到光譜儀形成元素的特征光譜，再由探測器對光譜信息進行光電轉換，由計算機對光譜數據進行存儲、處理和顯示。
全元素光譜分析儀的構成：
一臺光譜儀主要由一個光學平臺和一個檢測系統組成。包括以下幾個主要部分：
1.入射狹縫：在入射光的照射下形成光譜儀成像系統的物點。
2.準直元件：使狹縫發出的光線變為平行光。該準直元件可以是一獨立的透鏡、反射鏡、或直接集成在色散元件上，如凹面光柵光譜儀中的凹面光柵。
3.色散元件：通常采用光柵，使光信號在空間上按波長分散成為多條光束。
4.聚焦元件：聚焦色散后的光束，使其在焦平面上形成一系列入射狹縫的像，其中每一像點對應于一特定波長。
5.探測器陣列：放置于焦平面，用于測量各波長像點的光強度。該探測器陣列可以是CCD陣列或其它種類的光探測器陣列。
全元素光譜分析儀的優勢：
1、測試元素多，可測70余種元素。
2、多元素同時測試，一次進樣所有元素同時測試。
3、分析速度快，每分鐘約5個元素，*快測試速度可到每分鐘10個元素。
4、檢出限低，絕大多數元素可達ppb級。
5、線性范圍寬，可達5-6個數量級，可以實現高低含量同時測試，無需更換標準曲線。
6、化學干擾少。
在線客服
電話咨詢