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                                X射線鍍層測厚儀的原理和應用
                              1. 發布日期:2023-04-22     信息來源:      瀏覽次數:297
                                • 鍍層厚度測量已成為加工工業、表面工程質量檢測的重要環節,是產品達到優等質量標準的必要手段。隨著技術的日益進步,特別是近年來引入微機技術后,采用X射線鍍層測厚儀 向微型、智能、多功能、高精度、實用化的方向進了一步。測量精度可達到相對誤差±1.5%(1微米厚度),±0.01%(成分),與傳統的磁性測厚儀相比,性能上有了大幅度的提高。它適用范圍廣,量程寬、操作簡便且性價比高,是工業和科研使用廣泛的測厚儀器。
                                   
                                  工作原理:
                                   
                                  鍍層測厚儀是將X射線照射在樣品上,通過從樣品上反射出來的第二次X射線的強度來測量鍍層等金屬薄膜的厚度,因為沒有接觸到樣品且照射在樣品上的X射線只有45-75W左右,所以不會對樣品造成損壞。同時,測量的也可以在10秒到幾分鐘內完成。
                                   
                                  應用領域:
                                   
                                  黃金,鉑,銀等貴金屬和各種飾的含量檢測。
                                  金屬鍍層的厚度測量, 電鍍液和鍍層含量的測定。
                                  貴金屬加工和飾加工行業;銀行,飾銷售和檢測機構;電鍍行業。

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