x射線測厚儀是一種專門應用于半導體材料、電子器件、微電子學、光通訊和數據儲存工業中的金屬薄膜厚度測量。測量更小、更快、更薄Ux-720比現有其它的XRF儀器可以測量更小的面積、更薄的鍍層和更加快速?？蓽y試多鍍層，合金鍍層，能提供各類金屬層、合金層厚度的快速、準確、穩定、無損的測量。
x射線測厚儀的產品優勢：
1、可進行未知標樣掃描、無標樣定性，半定量分析。
2、操作簡單、易學易懂、精準無損、高品質、高性能、高穩定性，快速出檢測結果。
3、可針對客戶個性化要求量身定做輔助分析配置硬件。
4、鍍層檢測，至多鍍層檢測可達5層，精度及穩定性高。
5、激光定位和自動多點測量功能。
6、可檢測固體、粉末狀態材料。
7、運行及維護成本低、無易損易耗品，對使用環境相對要求低。
x射線測厚儀具體的功能要求如下：
?。?）控制C型架拖動電機的運行，實現C型架的前進、后退以及精確定位等動作；
?。?）控制X光機快門的開關，監測測厚儀的電源、冷卻系統以及紅外傳感器的工作狀態，實現人機的安全聯鎖；
?。?）與數據采集系統進行通信，完成厚度數據以及工作狀態的傳遞，實現測厚儀的標準塊校正和標準模式下的測量控制；
?。?）控制標準塊驅動電機。在校正模式和標準模式下完成標準塊的正常旋轉；
?。?）設計簡單、高效的人機界面，監測系統的運行狀態，輸人系統的運行參數。
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