天瑞XRF光譜儀是利用XRF檢測原理實現對各種元素成份進行快速、準確、無損分析。該儀器的主要特征是利用智能真空系統，可對Si、P、S、Al、Mg等輕元素具有良好的激發效果，利用XRF技術可對高含量的Cr、Ni、Mo等重點關注的元素進行分析，在冶煉過程控制中起到了測試時間短，大大提高了檢測效率和工作效率的作用。

    天瑞XRF光譜儀的光學系統：

    主光路部分包括：標準進口光柵；穩定可靠的焦距羅蘭圓出縫架。折反式前光路設計，使光路結構更加緊湊；方便可拆卸的光窗及入射狹縫設計，使維護清潔更加簡單，出射狹縫采用德國高精度加工中心整體加工，包括所有可能用到的120個分析通道精確定位，可以滿足各種基本元素分析；這種設計方法，為以后增加通道帶來方便。

    鋁合金整體光學室與特制中央空調式加熱恒溫設計，確保了光學室系統的長期穩定性。

    氬氣流沖洗確保系統潔凈，減少定期檢修次數，根據應用不同，光學室可以用真空及非真空狀態。

    天瑞XRF光譜儀是X射線光管發出的初級X射線照射樣品，樣品中原子的內層電子被激發，當外層電子躍遷時產生特征X射線，通過分析樣品中不同元素產生的特征熒光X射線波長（或能量）和強度，可以獲得樣品中的元素組成與含量信息，達到定性定量分析的目的。

    X射線是一種波長較短的電磁輻射，X射線與物質的相互作用主要有熒光、吸收和散射三種。