EDX系列x射線測厚儀可全自動軟件操作，可多點測試，由軟件控制儀器的測試點，以及移動平臺。是一款功能強大的儀器，配上專門為其開發的軟件，在鍍層行業中可謂大展身手。
EDX系列x射線測厚儀性能特點：
1、上照式
2、測試組件可升降
3、高精度移動平臺
4、小準直器
5、高分辨率探頭
6、可視化操作
7、自動定位高度
8、自動尋找光斑
9、鼠標定位測試點
10、良好的射線屏蔽
11、超大樣品腔設計
12、測試口安全防護
技術指標：
元素分析范圍從鈉(Na)到鈾(U)。
一次可同時分析zui多24個元素。
分析檢出限可達1ppm。
分析含量一般為1ppm到99.9%。
任意多個可選擇的分析和識別模型。
相互獨立的基體效應校正模型。
多變量非線性回收程序。
多次測量重復性可達0.1%。
長期工作穩定性為0.1%。
溫度適應范圍為15℃至30℃。
電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩壓電源。
標準配置：
開放式樣品腔。
精密二維移動樣品平臺，探測器和X光管上下可動，實現三維移動。
雙激光定位裝置。
鉛玻璃屏蔽罩。
Si-Pin
探測器。
信號檢測電子電路。
高低壓電源。
X光管。
高度傳感器
保護傳感器
計算機及噴墨打印機
應用領域：
黃金，鉑，銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測.
金屬鍍層的厚度測量, 電鍍液和鍍層含量的測定。
主要用于貴金屬加工和首飾加工行業；銀行，首飾銷售和檢測機構；電鍍行業。
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